Моделирование и анализ технологических рисков

Научно-практический семинар «Моделирование и анализ технологических рисков» — это дискуссионная площадка, на которой учёные, представители бизнеса, заинтересованные студенты и аспиранты встречаются для обсуждения актуальных практических задач и теоретических исследований в области моделирования, анализа и тестирования сложных технологических систем и комплексов.

На очередном заседании семинара 25 ноября 2016 года состоится доклад

Верификация Java-программ с помощью инструментов KeY Project

Дмитрий Сенотов, Григорий Скворцов (НИУ ВШЭ)

Тематика семинара "Моделирование и анализ технологических рисков" включают весь спектр вопросов, связанных с качеством и надежностью систем, мониторингом и предотвращением технологических рисков, в том числе:

• количественный и качественный анализ технологических рисков
• инструментальные средства анализа, тестирования и верификации
• прогнозирование износа оборудования
• анализ техногенных рисков
• тестирование и анализ высоконагруженных систем и систем высокой доступности
• тестирование и анализ параллельных и распределенных систем
• системы мониторинга в реальном времени
• методы и инструменты визуализация многомерных и слабо структурированных данных, 

и другие.

Заседания семинара проходят дважды в месяц по пятницам в 18:00 в аудитории 322 на факультете компьютерных наук НИУ ВШЭ (Кочновский проезд 3, метро Аэропорт). 

Приглашаются все желающие.