Моделирование и анализ технологических рисков
Научно-практический семинар «Моделирование и анализ технологических рисков» — это дискуссионная площадка, на которой учёные, представители бизнеса, заинтересованные студенты и аспиранты встречаются для обсуждения актуальных практических задач и теоретических исследований в области моделирования, анализа и тестирования сложных технологических систем и комплексов.
На очередном заседании семинара 25 ноября 2016 года состоится доклад
Верификация Java-программ с помощью инструментов KeY Project
Дмитрий Сенотов, Григорий Скворцов (НИУ ВШЭ)
Тематика семинара "Моделирование и анализ технологических рисков" включают весь спектр вопросов, связанных с качеством и надежностью систем, мониторингом и предотвращением технологических рисков, в том числе:
- количественный и качественный анализ технологических рисков
- инструментальные средства анализа, тестирования и верификации
- прогнозирование износа оборудования
- анализ техногенных рисков
- тестирование и анализ высоконагруженных систем и систем высокой доступности
- тестирование и анализ параллельных и распределенных систем
- системы мониторинга в реальном времени
- методы и инструменты визуализация многомерных и слабо структурированных данных,
и другие.
Заседания семинара проходят дважды в месяц по пятницам в 18:00 в аудитории 322 на факультете компьютерных наук НИУ ВШЭ (Кочновский проезд 3, метро Аэропорт).
Приглашаются все желающие.